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虽然增益等参数的测量在技术上不需要使用VNA，但是回波损耗和隔离的测量确实需要完整的网络分析。针对回波损耗和反向隔离的仪器设置取决于要分析的是PA的小信号行为还是大信号行为。小信号是指在线性工作区域内的信号，大信号是指在非线性工作区域的信号。测量小信号行为时，可以使用VNA**测量S11(输入回波损耗)和S22(输出回波损耗)。　　在某些情况下，测量输出回波损耗可能需要对测试配置进行微调。PA输出端和VNA端口2之间所需的衰减可能相对较高，尤其是对于高增益PA。在这种情况下，高PA增益和相对较低的回波损耗会产生功率极低的反射信号，并由VNA的端口2进行测量。因此，对高增益PA进行**的S22参数测量通常需要使用衰减器来生成比放大器增益更低的损耗。在这些情况下，通常针对S11、S12和S21测量使用一个衰减值，针对S22测量使用另一个衰减值。　　在生产测试中使用STS快速测量S参数　　NI半导体测试系统(STS)是一款全自动化生产测试系统，采用全新的方法来测量生产测试中的S参数。该系统结合了端口模块(port Module)与NI矢量信号收发器(VST)。除了开关和预选功能之外，端口模块